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CCD在微光夜视瞄准镜检测系统中的应用
系统成像 CCD 微光瞄准镜 光学设计
2008/9/28
多环境试验条件下的微光枪瞄检测技术一直是军备生产所关注的问题。由于在振动、射击、冲击、跌落和高低温环境等载荷作用下，微光枪瞄机械、光学和电性能结构及参数会发生改变，致使微光枪瞄不能正常工作和使用，所以设计了多环境试验条件下的微光枪瞄检测与测试系统。对测试系统的光路进行了规划，即对被检查对象（微光枪瞄）的安装要求是微光枪瞄的物镜应置于平行光管出射光口的“较近处”。给出了由CCD组成检测系统的工作原理...
根据CCD相机模拟通道噪音的非相关性，提出通过并联多个相同的模拟通道来降低模拟通道噪音的方法，并对此进行实验研究。通过实验测定实验装置中噪音的分布情况,得出并联双通道和并联三通道时噪音的改善因子为1.354和1.65，符合理论值。实验还显示，改善因子随模拟通道中可编程增益放大器增益的增加而减小，并对此现象进行分析。通过对改善因子与理论值的偏差进行分析，指出电源噪音、较高的转换速度及温升是造成偏差的...
采用800 nm，100 fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验，观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象，特别是在激光能量较高时，发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象。在飞秒激光器以1，10和1 000 Hz工作的条件下，分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值。对破坏后的CCD器件进行了显微分析。在1 kHz工作的条件下进行了视场外干扰实验，观察到串扰...
光子计数型CCD测量激光等离子体X射线
A new technique of single-photon counting X-ray CCD was presented. The detection efficiency in the range from 2 keV to 30 KeV was characterized by several X-ray sources. In the interaction of laser plasmas the layered targets were chosen consisting of 0.1 mm Cu layer coated with 50 mm Mo layer and 0.5 mm Al layer coated with 50 mm Cu layer and the Ka spectra with the Mo layer and the Cu layer were obtained and the results show that the energy resolution of CCD is more than 37.
2008/4/30
介绍了光子计数型电荷耦合器件(CCD)的工作原理，标定了2.0~30 keV的探测效率。在超强超短激光等离子体相互作用中，实验用靶为复合靶，分别用Cu＋Mo和Al+Cu制作。第1层靶是Cu或Al物质作为电子示踪材料，第2层靶是Mo或Cu物质作为荧光材料，利用光子计数型CCD测量了Mo和Cu的X射线能谱, 同时得到CCD的能量分辨率大于37。该CCD可用于激光等离子体低通量高能X射线测量实验。
用波长为1 064 nm、脉宽为5 ms的激光辐照SONY ICX055BL可见光硅CCD器件，实验中由图像采集卡采集得到相机的视频输出，同时用示波器检测ICX055BL的输出信号和垂直输出时钟信号。结果表明，在脉冲激光的辐照下，器件比较容易被破坏。研究中将器件作为一个功能整体，破坏机理分析不只局限于CCD的探测、电荷存储、电荷转移的MOS结构部分。结合实验结果和CCD器件的电路特点，初步判断该器...
激光辐射CCD的破坏机理分析
破坏机理 CCD 激光辐射
2008/4/30
研究了国内外关于激光辐照CCD及其相似材料结构导致的各种效应, 特别是软硬破坏效应, 给出了各种破坏的阈值及实验方式; 对各种破坏机理及理论模型进行了对比分析。
利用CCD准确测量激光远场发散角
远场发散角 CCD测量
2008/4/30
利用CCD面阵接收器,通过标定的方法,将其准确安置在长焦距透镜后焦面上,并找出CCD 象元数与原场发散角的对应关系,从而迅速确定远场发散角。同时用短焦距透镜对 光束限制光阑成像,测得近场光斑光强分布。以激光束振幅函数的傅里叶变换作为理想衍射 极限,将远场发散角与之比较,可以得到用几倍衍射极限的方法表示的实际光束质量。
介绍了单光子计数型CCD的工作原理。实验选择参数准确的X射线放射源前向辐照CCD的像元面，计数由此产生；通过积分获得X射线的强度分布，在CCD处于单光子计数状态下，扣除本底信号，得到该型CCD产生一个计数所需的光子能量，约6.453 eV。标定了该型CCD的探测效率。结果表明：在单光子计数型CCD的有效能区内，对于不同能量的入射光子，其探测效率不同，在5.3 keV处获得最高探测效率66％；...
CCD在fs激光辐照下的损伤研究
fs激光 电荷耦合器件(CCD) 失效阈值
2008/4/12
用脉宽为60 fs、波长为800 nm的 fs激光辐照电荷耦合器件，研究了电荷耦合器件在fs激光作用下的失效问题。实验得到fs激光作用下电荷耦合器件的失效阈值为4.22×10－3 J/cm2。这比ns激光作用下电荷耦合器件的损伤阈值低2～3个量级。对该器件进行显微观测，在光敏元上没有发现损伤，但在器件的栅极上发现了明显的激光引起的损伤痕迹。
1.319μm连续YAG激光束对可见光面阵CCD系统的干扰研究
钇铝石榴石激光 面阵电荷耦合器件系统 饱和阈值
2008/4/12
利用1.319μm连续钇铝石榴石激光对可见光面阵CCD系统进行干扰实验，分析了该CCD系统发生干扰饱和的原因，计算了1.319μm激光辐照面阵可见光CCD的干扰饱和阈值，利用实验数据在定量上验证了计算结果。当像面上激光功率密度达到102W/cm2量级时，CCD出现饱和串音，达到102W/cm2量级时，出现全屏饱和。
对测量细丝直径在10~40 μm的电荷耦合器件激光衍射测径系统提出了两种新的标定方法，并对不同标定方法下的系统进行了测试对比。结果表明，选择恰当的标定方法可以使系统测量精度达到0.15 μm。