搜索结果: 1-15 共查到“知识库 工学 XPS”相关记录52条 . 查询时间(0 秒)
采用介质阻挡低温等离子体对木制品聚丙烯（PP）饰面膜表面进行不同放电功率和处理速度的改性处理后，分别对其表面进行X射线光电子能谱（XPS）和激光共聚焦显微拉曼（Raman）光谱分析，研究等离子改性对PP饰面膜的化学成分和元素组成的影响。结果表明：由拉曼光谱可知，未处理的PP饰面膜表面含有大量的C原子和H原子间摇摆振动引起的振动峰、C原子间伸缩振动和C与H原子间弯曲振动引起的振动峰；
通过对含硫模型化合物和新峪焦精煤中的有机硫含量的分析，对XPS谱图的分峰拟合方法和参数设置进行了探讨。结果表明，用XPS解析煤中不同形态硫含量时，应按2p3/2和2p1/2劈裂峰分峰方法进行，并设置劈裂峰的面积比约为2：1，裂距为1.18 eV，L-G%相同，FWHM值也相同；限定各有机硫2p3/2峰峰位分别为：硫醇硫醚类硫162.1~163.6 eV；噻吩类硫164.0~164.4 eV；亚砜类...
选择一种高硫新西兰煤(NXL)作为研究对象,高纯Ar气氛中,以5℃/min的升温速率在管式炉中热解,热解终温为300~1 000℃。用XPS研究煤及不同温度下半焦中氮、硫的赋存形态。将N 1s谱图用Lorentzian-Gaussian拟合分为四个峰:N-6(398.8±0.4)eV、N-5(400.2±0.3)eV、N-Q(401.4±0.3)eV和N-X(402.9±0.5)eV;S 2p谱图...
选择一种高硫新西兰煤(NXL)作为研究对象,高纯Ar气氛中,以5℃/min的升温速率在管式炉中热解,热解终温为300~1 000℃。用XPS研究煤及不同温度下半焦中氮、硫的赋存形态。将N 1s谱图用Lorentzian-Gaussian拟合分为四个峰:N-6(398.8±0.4)eV、N-5(400.2±0.3)eV、N-Q(401.4±0.3)eV和N-X(402.9±0.5)eV;S 2p谱图...
介绍了多碱阴极的特点及其在超二代像增强器中的应用。叙述了多碱阴极进行制作和封接，之后在XPS 分析仪器的预真空室中进行解封并送入仪器分析室进行分析的过程。对多碱阴极不同膜层厚度处各元素原子的百分比进行了XPS 分析。首先对多碱阴极的表面进行宽谱扫描，发现元素之后再针对各个元素进行窄谱扫描，之后进行氩离子刻蚀。刻蚀一定时间后再对多碱阴极表面进行宽谱或窄谱扫描，氩离子刻蚀一直进行到阴极玻璃窗的表面。通...
利用X射线光电子能谱和程序升温脱附谱研究了NO在清洁和预吸附氧的Cu(111)表面上的吸附和反应.通过改变NO的暴露量和退火温度,在Cu(111)表面可以制备出不同种类的化学吸附氧物种,其O 1s的结合能分别位于531.0 eV (O531)和529.7 eV (O529).表面O531物种的存在对NO的不同吸附状态有着显著影响,同时使得大部分NO吸附分子(NO(a))在加热过程中发生分解并以N2...
FTIR和XPS对沸石合成特性及Cr(Ⅲ)去除机制的谱学表征
合成沸石 Cr(Ⅲ) 粉煤灰 FTIR:XPS
2012/4/12
以粉煤灰为原料，采用优化的水热晶化法合成沸石，使用XRD，SEM和ζ电位分析沸石产品的组成特性，借助FTIR和XPS等揭示废水中Cr(Ⅲ)的去除机制。合成产品主要为NaP1型沸石，在pH值8～12区间内，ζ电位由-8.72 mV降到-24.46 mV。准二级方程和Langmuir等温线对试验的拟合效果更好，理论饱和吸附量为33.557 0 mg·g-1。FTIR图谱表明—OH和Si—O类官能团在反...
用X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy，XPS)研究了聚羧酸型梳状共聚物超分散剂吸附于莠去津颗粒样品表面的电子状态，计算了吸附厚度。结果表明，吸附分散剂后，莠去津颗粒界面的N(1s)和Cl(2p)谱峰强度明显减弱，Cl(2s)几乎消失，C(1s)，O(1s)和Na(1s)谱峰强度则明显增强，这主要是分散剂中C，O和Na的贡献，且吸附分散剂后能在莠去津颗...
用准“原位”XPS技术研究了Mo/Al_2O_3、Mo/TiO_2-Al_2O_3、CO/Al_2O_3、CO/TiO_2-Al_2O_3、Co-Mo-Al_2O_3和Co-Mo/TiO_2-Al_2O_3等催化剂的硫化过程．结果表明：对以Al_2O_3为载体的催化剂，当Mo或Co载量较低(分别低于0.05 gMoO_3/gAl_2O_3或0.03gCoO/gAl_2O_3)时，没有Mo或Co硫化...
Purpose: The X-Ray Photoelectron Spectrometry (XPS) and Auger Electrons Spectroscopy (AES) analysis of PVD
coatings were performed for samples, made from cemented carbides, cermets and composite grad...
用等离子体浸没离子注入与沉积(PIIID)复合强化新技术在AISI52100轴承钢基体表面成功合成了硬而耐磨的氮化钛薄膜。膜层表面的化学组成和相结构分别用X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)表征;膜层表面的原子力显微镜(AFM)形貌显示出TiN膜结晶完整，结构致密均匀。XRD测试结果表明，TiN在(200)晶面衍射峰最强，具有择优取向。Ti(2p)的XPS谱峰泰勒拟合分析揭示出，Ti(...
低温等离子体改性芳纶表面的XPS分析
芳纶 等离子体
2009/10/23
采用XPS表面表征技术对等离子体处理的芳纶纤维表面化学组成进行了分析。结果表明:随着等离子体处理时间的增加,芳纶表面碳元素含量下降,氮元素的含量总体上变化不大,芳纶表面碳元素含量的下降,印证了氧元素含量的增加。在实验范围内,随着等离子体处理时间的增加,含氧基团(—C—OH、C O、—COO—、—COOH)的总量呈现上升趋势,因此等离子体对芳纶纤维表面的化学作用以及物理刻蚀均有利于芳纶纤维界面性质的...
文档格式之争——PDF与XPS
文档格式 PDF XPS
2009/10/21
参加了中国印刷技术协会数字印刷分会于今年6月19日举办的“传统印刷如何迎接数字技术”的专题座谈，几位业内资深专家就参观drupa2008的印象，以及对数码印刷未来发展趋势所做的一些预测，让在场的众多业界同仁感受到印刷的数字时代已经离我们越来越近。
硅片上超薄氧化硅层厚度测量的XPS标准曲线法
X射线光电子能谱(XPS) 氧化硅 厚度测量 标准曲线
2011/4/22
提出一种新的处理方法-XPS标准曲线法来测量硅片上超薄氧化硅层(SiO2/Si)的厚度。该方法利用一系列氧化硅厚度(d)准确已知的SiO2/Si标准样品，分别记录其氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线，并得到峰高比(R)，然后将厚度(d)对峰高比(R)作图得到标准曲线。在相同的实验条件下，测得未知样品氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线并计算其峰高比，通过插入法在标准曲线上得到相应的氧化硅层厚度。SiO2...