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FTIR和XPS对沸石合成特性及Cr(Ⅲ)去除机制的谱学表征
合成沸石 Cr(Ⅲ) 粉煤灰 FTIR:XPS
2012/4/12
以粉煤灰为原料，采用优化的水热晶化法合成沸石，使用XRD，SEM和ζ电位分析沸石产品的组成特性，借助FTIR和XPS等揭示废水中Cr(Ⅲ)的去除机制。合成产品主要为NaP1型沸石，在pH值8～12区间内，ζ电位由-8.72 mV降到-24.46 mV。准二级方程和Langmuir等温线对试验的拟合效果更好，理论饱和吸附量为33.557 0 mg·g-1。FTIR图谱表明—OH和Si—O类官能团在反...
硅片上超薄氧化硅层厚度测量的XPS标准曲线法
X射线光电子能谱(XPS) 氧化硅 厚度测量 标准曲线
2011/4/22
提出一种新的处理方法-XPS标准曲线法来测量硅片上超薄氧化硅层(SiO2/Si)的厚度。该方法利用一系列氧化硅厚度(d)准确已知的SiO2/Si标准样品，分别记录其氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线，并得到峰高比(R)，然后将厚度(d)对峰高比(R)作图得到标准曲线。在相同的实验条件下，测得未知样品氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线并计算其峰高比，通过插入法在标准曲线上得到相应的氧化硅层厚度。SiO2...